138-1266-3007
| K568E規格配置表 | |
| 項 目 | 詳 細 參 數 |
| 測試點數 | 新CMOS+RELAY設計 128點 |
| 開關卡設計 | 0.6mm ~ 6.0mm |
| 測試步驟 | 最大步驟無限制 |
| 測試時間 | 開路/短路測試:每1024點約1Sec |
| 元件測試:每一元件約2mSec至40mSec(可程序) | |
| 測試功能及范圍 | 電阻 50mΩ～100MΩ±1%～5% |
| 電容 1pF～100mF±1%～5% | |
| 電感 1uH～60H±2%～5% | |
| 二極管 0.1V～9V±1%～3% | |
| 穩壓二極管 0.1V～15V | |
| 電晶體 三端測試Vce飽和電壓β值 | |
| 場效應管 三端測試Vds,Cds | |
| 光藕及繼電器 四端測試其導通電壓或電阻值 | |
| 電解電容極性 利用外殼與正負極的頻譜特性檢測,可測率99% | |
| RLC串并聯 頻率測試法或相位分離法 | |
| IC集成塊 IC Clamping Diode及DR模式測試空焊 | |
| SMD空焊 | HPJ測試功能 |
| 隔離點電路 | F2一鍵自動隔離,每測試步驟可支持10個隔離點 |
| 測試值上下限設定范圍 | 上限：0%-200%（0時為無窮大）下限 0%-99%（0時為無窮大） |
| 可測電路板尺寸 | 標準配備:最大可測試500mm(寬)×350mm(深) |
| 尺寸超過標準的可按需求定制壓床 | |
